MASAOU Material Analysis and Structure Analysis Open Unit

マテリアル分析・構造解析共用ユニット

SEM/CP/AFM/LSCM表面観察セミナーの中間報告

本ユニット主催で開催中の『SEM/CP/AFM/LSCM表面観察セミナー』。

5月6月7月分が終了しました。

本セミナーは全学共同利用施設『光電子分光分析研究室』の装置をお借りして3種類の光学顕微鏡の違いを理論と実践から学びます。

■SEM(走査型電子顕微鏡):観察対象に電子線を照射して、真空状態で、拡大観察をします。(日本電子㈱JSM-6510LA)

 

SEM実践(少人数制)の様子 :2次電子像・反射電子像・EDSによる定量定性測定およびマッピングの観察測定

■AFM(原子間力顕微鏡):観察対象の表面を探針でなぞって表面形状を拡大観察します。大気圧状態または水中でナノスケールまで観察できます。(セイコーインスツルメンツ㈱SPA400)

AFM実践(少人数制)の様子:大気圧状態でDFMモードの形状像、位相像、誤差信号像の観察。形状像からは高さプロファイルなどが得られる。

■LSCM(共焦点型レーザー顕微鏡):観察対象に光を照射して、反射光や透過光を焦点レンズで結合させて拡大観察します。大気圧状態でマイクロスケールまで観察できます。(レーザーテック㈱1LM21D)

LSCM実践(少人数制)の様子:試料にレーザー光を照射しZ方向へ移動させながら得た像(2次元Z画像)から高度差、表面粗さなどを解析

装置の仕組みを知り(理論)、実際に装置に触れること(実践)で各自の試料に適した装置を確認できます。

8月分(8月1-2日)、9月分(9月12-13日)もございます。参加費無料ですので、皆様のご参加をお待ちしております。

詳しくは以下のMASAOUのホームページ、またはPFDをご覧ください。

*主催:文部科学省「先端研究基盤共用促進」事業 マテリアル分析・構造解析共用ユニット
*共催:全学共同利用施設 光電子分光分析研究室

【詳細】MASAOUのホームページ

    SEM/CP/AFM/LSCM 表面観察セミナー プログラム

【予約・お問い合わせ先】MASAOU事務室 

(内)8175 masaou [at] eng.hokudai.ac.jp  ( [at] を@に変換してください)

 

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