MASAOU Material Analysis and Structure Analysis Open Unit

マテリアル分析・構造解析共用ユニット

「SEM/CP/AFM/LSCM表面観察セミナー」終了のご報告

本ユニット主催、本学工学研究院光電子分光分析研究室の共催で開催していました『SEM/CP/AFM/LSCM表面観察セミナー』

(理論のべ8回、実践のべ5回)を終了いたしました。

昨年に引き続き2回目の開催で、工学研究院だけでなく他部からもご参加いただきました。

のべ31名の方にご参加いただきました。ありがとうございました。

 

■本セミナー開催期間:2018年5月-9月(毎月)

■対象:材料の表面構造分析に興味がある方、装置の利用を始めて間もない方。

■装置:3種類の顕微鏡(SEM/AFM/LSCM)および試料前処理装置(CP)

光学顕微鏡・・・共焦点型レーザー顕微鏡 LASM (マイクロスケール・大気圧での観察)

走査型プローブ顕微鏡…原子間力顕微鏡 AFM(ナノスケール・大気圧での観察)

電子顕微鏡・・・走査型電子顕微鏡 SEM (マイクロスケールからナノスケール・真空での観察)

 

まず理論を受講して装置に対する理解を深めた上で、実際の装置で「なにができるか」を体験し装置への理解を深めていただきました。全参加者に装置の実践の前に、理論を受講していただいています。

表面観察セミナー:理論の様子

実践で用いる試料は持ち込み試料もお受けしました。実践では最大4名程度と、少人数で実施いたしました。実際に自分が扱っている試料を観察することにより、今後の研究にどの装置を利用したらいいのかの一助になれたかと存じます。

実践:共焦点型レーザー顕微鏡LSCMの様子

実践:原子間力顕微鏡AFMの様子

実践:走査型電子顕微鏡SEMの様子

観察した試料の一例:鉱物由来の粉末の薄片、岩石由来のバルク、銅金属のバルク、合成金属薄片

◆◇本セミナーの開催日時と当日の様子はMASAOUのホームページ特設ページでもご覧いただけます。

◆◇主催:マテリアル分析・構造解析共用ユニットMASAOU

  共催:全学共同利用施設 光電子分光分析研究室

◆◇今後、X線回折装置XRDのセミナー開催を予定しております。また、全学共同利用施設ナノ・マイクロマテリアル分析研究室共催の『材料観察セミナー(XRF・粒度分布測定装置)』は10月まで随時開催しています。たくさんの方のご参加をお待ちしております。

【お問い合わせ先】MASAOU事務室 

(内)8175 masaou [at] eng.hokudai.ac.jp  ( [at] を@に変換してください)

HP:http://www.eng.hokudai.ac.jp/labo/masaou/index (毎週更新中)

 

 

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